SERIUNAM - Vista completa del registro

Título clave	IEEE design & test (En línea)
Parte del título	IEEE design and test
Datos publicación	New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers
Frecuencia actual	Seis números al año
Tipo de contenido	texto
Medio	computadora
Soporte	recurso en línea
Restricciones	Acceso sólo para usuarios de REDUNAM
Nota otro form.	También publicado en forma impresa
Org. responsable	Publicación de la IEEE Circuits and Systems Society, IEEE Council on Electronic Design Automation, IEEE Solid State Circuits Society, y el IEEE Test Technology Technical Council.
ISSN	2168-2364
Tema	Ingeniería de computadoras.
Organismo respons.	Institute of Electrical and Electronics Engineers.
	IEEE Circuits and Systems Society..
	IEEE Council on Electronic Design Automation..
	IEEE Solid-State Circuits Society..
	IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology..
Otras formas fìsic	IEEE design & test 2168-2356.
Texto completo	Texto completo a través de IEEE (cubre 2013 v. 30 n. 1 - )
Véase también	IEEE design & test of computers (En línea)

Universidad Nacional
Autónoma de México