| Formato
| SE |
| Líder
| 00000nas a2200000zi 4500 |
| No. de control
| 000159863 |
| Fixed field Add Mat
| m d |
| Campos Descr.Físic
| cr |
| Campos fijos
| 141021c20139999xxubx_p_s_________a_eng_d |
| ISSN
| 2168-2364 |
| No. Notis
| SER01000159863 |
| Estado del registro
| DIG |
| Fuente de Catalogac
| MX-MxUNAM spa rda MX-MxUNAM |
| Código de idioma
| eng |
| Clasificación LC
| TK7885.A1 |
| Clasif. Dewey
| 621 |
| Autor Título Unifo
| IEEE design & test (En línea) |
| Título abreviado
| IEEE des. test (En línea) |
| Título clave
| IEEE design & test (En línea) |
| Título y subtítul
| IEEE design & test |
| Parte del título
| IEEE design and test |
| Datos publicación
| New York, NY : Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| Frecuencia actual
| Seis números al año |
| Tipo contenido
| texto rdacontent |
| Tipo medio
| computadora rdamedia |
| Tipo soporte
| recurso en línea rdacarrier |
| Dates Publication
| Empezó con: Volume 30, number 1 (enero/febrero 2013). |
| Restricciones de Ac
| Acceso sólo para usuarios de REDUNAM |
| Nota otra from.
| También publicado en forma impresa |
| System Details Note
| Modo de acceso: World Wide Web |
| Org. responsable
| Publicación de la IEEE Circuits and Systems Society, IEEE Council on Electronic Design Automation, IEEE Solid State Circuits Society, y el IEEE Test Technology Technical Council. |
| Nota Fuente de Desc
| Descripción basada en: volume 30, number 1 (enero/febrero 2013); título de la cubierta del PDF (IEEE, visto en octubre 17, 2013). |
| Nota Fuente de Desc
| Último ejemplar consultado: volume 31, number 1 (enero/febrero 2014) (IEEE, visto en febrero 26, 2014). |
| Mat. general
| Ingeniería de computadoras. |
| Coautor corp.
| Institute of Electrical and Electronics Engineers. |
| Coautor corp.
| IEEE Circuits and Systems Society.. |
| Coautor corp.
| IEEE Council on Electronic Design Automation.. |
| Coautor corp.
| IEEE Solid-State Circuits Society.. |
| Coautor corp.
| IEEE Computer Society. Technical Council on Test Technology.. |
| Otras formas presen
| IEEE design & test 2168-2356. |
| Continúa de
| IEEE design & test of computers (En línea) 1558-1918. |
| Liga Electronica
| http://ieeexplore.ieee.org/servlet/opac?punumber=6221038Texto completo a través de IEEE (cubre 2013 v. 30 n. 1 - ) |
| Link
| UP 000135334 SER01 IEEE design & test (En línea) IEEE design & test of computers (En línea) |
| Owner
| PUBLIC |
| TYP
| <Web Journal> |
| Sys.No.
| 000159863 |
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